Antimirkobno dejstvo površinskih aktiviranih sorbenata modifikovanih jonima metala

Abstract

Predmet istraživanja ove doktorske disertacije je površinska modifikacija materijala koji se koriste u antimikrobnom prečišćavanju vode. Promena površine materijala i prisustvo različitih funkcionalnih grupa važna je sa analitičkog aspekta i omogućava unapređenu primenu materijala. Materijali presvučeni filmom jona metala pokazuju dobro dezinfekciono svojstvo. U ovom radu, testirani su sorbenti različitog porekla (5 prirodnih, 3 modifikovana i 3 sintetička) i aktivirani sa Ag+-, Cu2+- i Zn2+- jonima, primenom procesa sorpcije u šaržnom sistemu. Ispitane su strukturne i površinske karakteristike prirodnih i modifikovanih materijala, određena je kinetika i mehanizam procesa sorpcije i desorpcije. Karakterizacija prirodnih i modifikovanih sorbenata izvršena je korišćenjem rendgenske difrakcione tehnike (XRD), rendgenske fotoelektronske spektroskopije (XPS) i skenirajućeg elektronskog mikroskopa (SEM). Za određivanje koncentracije jona metala korišćen je sistem indukovano spregnute plazme sa optičkom emisionom spektroskopijom (ICP-OES) i masenom spektrometrijom (ICP-MS)...

The research topic of this doctoral thesis is focused on the surface modifications of materials used in antimicrobial water treatment. The surface change of the material and the presence of varying functional groups are of particular importance in an analytical aspect which allows for an improved application of the material, impregnated by a film of disinfecting metal ions. In this study, sorbents of a selected range of origin (5 natural, 3 modified and 3 synthetic) have been tested and activated by Ag+-, Cu2+- and Zn2+- ions, in a single batch sorption mode. The structural and surface characteristics of natural and modified materials have alsobeen investigated, followed by the kinetics and mechanisms of the sorption and the desorption processes. The characterization of native and modified sorbents was performed byX-ray diffraction technique (XRD), an X-ray photo electron spectroscopy (XPS) and a scanning electron microscope (SEM)...